Alford, T. L., Feldman, L. C., & Mayer, J. W. (2007). Fundamentals of nanoscale film analysis. Springer.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Alford, Terry L., Leonard C. Feldman, و James W. Mayer. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis. New York, N.Y. ; London: Springer, 2007.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Alford, Terry L., et al. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis. Springer, 2007.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.