Fundamentals of nanoscale film analysis /

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Alford, Terry L. (مؤلف), Feldman, Leonard C. (مؤلف), Mayer, James W., 1930 (مؤلف)
التنسيق:	كتاب
اللغة:	الإنجليزية
منشور في:	New York, N.Y. ; London : Springer, 2007
الموضوعات:	Nanostructured materials Thin films
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة